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电子元器件
发布时间：2019-11-13 | 信息来源：深圳市启威测标准技术服务有限公司
电子元器件是构成电子设备最小和最基本的单元，电子设备主要是由电子元器件组成的，电子元器件的可靠性直接影响电子设备可靠性。QWC启威测实验室及其合作伙伴，为客户提供全面的一站式测试解决方案，可以按照GB、GJB、IEC、MIL、JIS、UL等标准开展各类电子元器件的电参数测试、物理试验、无损检测、可靠性检测、失效分析等各方面，进行质量检验检测，为产品的工艺改进、质量及可靠性的提升提供支持。也可以按照客户委托要求开展电子元器件的鉴定检验、质量一致性检验、筛选、二次筛选、摸底等。
业务挑战
电子元器件对环境的耐受性能如何？
如何保证电子元器件的可靠性？
电子元器件失效的原因是什么？
服务内容
一、电子元器件检测项目
元器件电气特性检测
分立器件/集成电路参数(IL /Vbr/Vf/Vr/Vth…)
线材高频参数(Impedance/Attenuation/Skew/Delay…)
电阻/电容/电感参数(R/C/L/LC/ESR/Rdc/Idc…)
扬声器/受话器参数 (FR/ THD / SPL/ Sensitivity…)
印刷线路板参数(Impedance/IR/Hi-pot…)
通讯模组参数(发射功率/频率误差/调制精度/接收灵敏度…)
频率器件参数(F/SR/Tr/Ts/Tf…)
光纤/光模组参数(插入损耗/回波损耗参数)
连接器参数(LLCR/Mating Force /IR…)
元器件物性及材料分析
外观/尺寸量测（金相显微镜/ 3D电子显微镜 / 扫描电镜SEM)
无损分析(超声波扫描C-SAM/ X-Ray探测…)
膜厚测试（SEM测试）
破坏性分析(开封 /切片/聚焦离子束…)
盐雾测试
介电常数测试
共面度测试
铝箔耐压/比容测试
强度/硬度测试
磁导率测试
插拔力/推拉力测试
有害物质快速筛选/检测
元器件及系统可靠性
快速温变率试验
可焊性测试
温湿度试验
回流焊/耐焊性验证
高加速老化试验
跌落测试（可加瞬断监控）
冷热冲击试验
振动测试（可加瞬断监控）
高、低温试验
机械冲击试验（可加瞬断监控）
寿命测试
端子强度验证
静电等级验证
插拔耐久测试
耐摩擦测试
线材摇摆测试（可加瞬断监控）
铅笔硬度测试
混合气体测试
湿度敏感等级验证
真空/低气压测试
元器件失效分析
外观观测、尺寸量测
芯片去层分析
功能、参数分析
芯片截面分析(FIB&SEM)
超声波扫描分析C-SAM
芯片热点探测
2D/3D X-Ray探测
高倍观测(3D&SEM)
CT断层扫描分析
红墨水试验
化学、镭射开封
异物成份分析(EDX)
切片研磨分析
抗静电分析(ESD)
二、适用产品范围
半导体分立器件、真空电子器件、光电子器件、通用元件、机电元件及组件、特种元件、集成电路IC、晶体管、MOS管、电阻、电容、电感、LED、光伏元件、机电元件、传感器、电子功能材料及专用设备等 。
三、常规样品要求
可靠性项目一般3PCS/项目，失效分析项目需要提供良品和不良品做比对测试。以具体测试项目及具体测试标准为准。
四、测试标准
序号
检测对象
项目/参数
检测标准（方法）
名称
电子连接器
耐久性
电子连接器耐久性试验程序ANSI/EIA-364-09C-1999(R2012)
2
电子连接器
整体插拔力
电子连接器整体插拔力测试程序ANSI/EIA-364-13E-2011
3
电子连接器
端子保持力
电子连接器端子保持力试验程序ANSI/EIA-364-29C-2006(R2013)
4
电子连接器
低电流接触阻抗
电子连接器低电流接触阻抗试验程序ANSI/EIA-364-23C 2006(R2017)
5
电解质铝电容器
耐久性
电子设备用固定电容器第4部份：分规范-固体铝电解质电容（MnO2）及非固体铝电解质电容IEC 60384-4：2016JIS C 5101-4:2010GB/T 5993-2003
6
电解质铝电容器
電容量
电子设备用固定电容器第4部份：分规范-固体铝电解质电容（MnO2）及非固体铝电解质电容IEC 60384-4：2016JIS C 5101-4:2010GB/T 5993-2003
7
电解质铝电容器
损耗角正切(损耗因子)
电子设备用固定电容器第4部份：分规范-固体铝电解质电容（MnO2）及非固体铝电解质电容IEC 60384-4：2016JIS C 5101-4:2010GB/T 5993-2003
8
电解质铝电容器
漏电流
电子设备用固定电容器第4部份：分规范-固体铝电解质电容（MnO2）及非固体铝电解质电容IEC 60384-4：2016JIS C 5101-4:2010GB/T 5993-2003
9
电解质铝电容器
等效串联电阻
电子设备用固定电容器第4部份：分规范-固体铝电解质电容（MnO2）及非固体铝电解质电容IEC 60384-4：2016JIS C 5101-4:2010GB/T 5993-2003
10
微电子器件
静电放电
微电子器件试验方法和程序GJB 548B-2005 方法3015
11
微电子器件
静电放电
微电路试验方法标准MIL-STD-883H-2010 方法3015.8
12
微电子器件
静电放电
静电放电试验人体模式JESD22-A114E-2007
13
微电子器件
静电放电
静电放电试验机器模式JESD22-A115C-2010
14
电工电子产品 、元件
低温
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A:低温 IEC 60068-2-1:2007GB/T 2423.1-2008
15
电工电子产品 、元件
高温
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B:高温 IEC 60068-2-2:2007GB/T 2423.2-2008
16
电工电子产品 、元件
温度变化
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 IEC 60068-2-14:2009GB/T 2423.22-2012
17
电工电子产品 、元件
恒温恒湿
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验 IEC 60068-2-78:2012GB/T 2423.3-2006
解决方案
QWC启威测实验室提供全面的可靠性测试一站式解决方案，包括：
环境测试
可靠性测试
可靠性设计
可靠性分析
产品评估
我们的优势
拥有众多先进仪器设备并通过CMA资质认可，测试数据准确可靠，
科学的实验室信息管理系统，保障每个服务环节的高效运转。
技术专家团队实践经验丰富，可提供专业、迅速、全面的一站式服务。
收到样品1-2个工作日安排，交期及时。
服务流程
咨询客服→确认测试方案→填写申请表→寄送样品→支付测试费用→测试→发送报告和发票
常见问题
1.测试周期需要多久？
正常周期为5-7个工作日（样品在试验箱或试验台内时间除外）。如需加急，请联系我们的业务或者客服。
2.绝缘电阻测试时，测试电压一般是多少，测试时间呢？
绝缘电阻测试仪，测试电压最高1000V，PCB的绝缘电阻测试通常根据有关规定选择电压10V、100V或500V等，如果没有规定，加载电压时间一般为1分钟。
3.耐电压测试的最高电压可以到多少伏？
针对电子元器件的耐电压测试仪，最大电压一般可以达到AC: 5.5KV；DC：6KV。针对板材或片材的耐电压测试，最大电压可以达到40kV。
4.电子元器件湿热敏感等级测试后，元器件封装出现了分层，就说明元器件不符合MSL等级的要求，产品可以判定为不合格吗？
产品出现了分层，并非一定不合格，需要根据标准中的判定规定，根据分层的位置，面积等进行判定，例如分层面积较小并且位置不在焊点连接等位置，一般可以判定合格。
简 介 启威测是一家专注于电子产品及材料研发阶段可靠性检测、验证及失效分析服务的第三方检测机构。网址：www.qwctest.com，联系电话：0755-27403650。
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