低温存储测试

低温存储测试介绍：

低温测试是用来确定产品在低温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于低温的温度和曝露持续时间。

低温存储测试的目的：

低温测试的目的是确定材料、电子设备或其他零部件在低温环境下使用、运输或贮存的能力。低温试验为产品的可靠性改进和提升提供依据,并确认其寿命与可靠性是否符合整机产品的设计要求;对比不同牌号/不同供应商确定材料的寿命与可靠性优劣,为改进优化及材料选型提供依据。

低温存储测试失效模式：

低温条件下试件的失效模式：产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象。

可靠性低温环境对产品的主要影响有：

橡胶等柔韧性材料的弹性降低，并产生破裂；

金属和塑料脆性增大，导致破裂或产生裂纹；

电子元器件电参数发生变化，影响产品的电性能；

结冰或结霜引起产品结构破坏或受潮；

润滑剂粘度增加，流动能力降低，润滑作用减小；

材料收缩造成机械结构变化。

低温存储测试应用领域：

铜材、铝材、钢材、钛材等金属材料及产品

陶瓷、玻璃等无机非金属材料及产品

塑料、橡胶等高分子材料及产品

复合材料及产品

低温存储测试相关标准：

GB/T  2423.1

IEC 60068-2-1

EIA-364-59

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简 介

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