电阻器失效案例分析

【案例1】绕线电阻腐蚀失效

(1) 样品:绕线电阻器。

(2) 失效模式:开路

(3) 失效机理:电阻由于电阻丝被C1电化学腐蚀而造成电阻的开路.

(4) 分析说明:

图10-12为电阻丝腐蚀断开位置的Ⅹ射线形貌,从图中能清晰地见到电阻丝已断裂。图10-13为去掉包封层后观察到的电阻丝断裂的形貌。在电阻丝断口进行能谱分析,结果证明断裂处含有大量的C1。故判断该绕线电阻器由于电阻丝被CI电化学腐蚀而造成电阻开路。

 

【案例2】非绕线电位器参数漂移失效 

(1) 样品:非绕线电位器

(2) 失效模式:电参数漂移

(3) 失效机理:电位器的银电极发生迁移导致阻值漂移失效

(4) 分析说明:

开封后,可见样品的银电极附近存在明显的银迁移物(见图10-14),银迁移物处于电位器中间引脚(2号引脚)与其他引脚之间的绝缘区域,可判断电位器由于银迁移导致阻值漂移失效。

 

 

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